Оркада » Продукты и услуги » Продукты компании Mentor Graphics » Постпроизводственное тестирование микросхемПродукция

Анализ результатов тестов и снижение количества неисправностей

Анализ результатов тестов и снижение количества неисправностей

Данные продукты Tessent позволяют проанализировать результаты тестов и устранить систематически проявляющиеся неисправности, снижающие процент выхода годных микросхем.

Анализ результатов тестов Tessent Diagnosis

Tessent® Diagnosis извлекает пользу из неудачных тестов. Благодаря технологии анализа с учётом топологии кристалла, пакет точно идентифицирует расположение и классификацию дефектов, обнаруженных тестами Tessent TestKompress® или Tessent FastScan™.

Tessent Diagnosis получает данные о неисправностях полученные в ходе постпроизводственного тестирования, анализирует тестовые последовательности и исходный проект, классифицирует неисправности, и находит физические и логические места расположения дефектов, являющихся причинами неисправностей.

Снижение процента неисправных микросхем Tessent YieldInsight

Tessent YieldInsight проводит статистический анализ диагностических данных с целью выявить и изолировать систематически появляющиеся ошибки, снижающие выход годных кристаллов. Выполняется перед анализом неисправностей.

Анализ результатов самотестирования Tessent SiliconInsight

Tessent SiliconInsight - это автоматизированная интерактивная среда для доводки и отладки тестов, а также для характеризации устройств, содержащих структуры Tessent BIST или Tessent IJTAG